TESEQ NSG 3040電源質量測試系統(tǒng)
TESEQ NSG 3040電源質量測試系統(tǒng)是抗擾度測試中的模擬電磁干擾影響的多功能發(fā)生器，它操作簡便、具有多種功能，滿足企業(yè)、國內和國際標準(包括最新的IEC/EN標準)和CE標志測試的傳導EMC測試要求。TESEQ NSG 3040電源質量測試系統(tǒng)采用了特測公司最新設計理念包含了電子快速瞬變(EFT)和電能質量測試 (PQT)。豐富的擴展功能使該系統(tǒng)提供更廣泛的應用配置范圍。
TESEQ NSG 3040電源質量測試系統(tǒng)是多用途系統(tǒng)，可以按照基本測試要求配置和擴展以滿足復雜的測試實驗室的需求。成熟、獨特的“主—從”概念技術使得單個脈沖模塊能夠獨立校準，并將校準資料和修正系數(shù)存儲于從控制器上。新模塊安裝簡便，無需返回整個系統(tǒng)進行校準。由于采用技術先進的組件，TESEQ NSG 3040電源質量測試系統(tǒng)在開關切換技術和相位精度方面建立了新的標準，并且超越了現(xiàn)行標準的要求。
高畫質及對比度的7"大彩色觸摸顯示屏使得TESEQ NSG 3040電源質量測試系統(tǒng)的操作非常簡便。根據(jù)要求，既可以通過一體化鍵盤也可以用帶有靈敏度調整鍵的滾輪來進行輸入。此外，在開發(fā)環(huán)境下，通過內置的TA(測試程序調用)功能，幾個“點擊”就能激活標準測試，迅速、可靠地得到結論性結果。便捷的觸摸按鈕使輸入的每個參數(shù)的值非常明顯，并允許用戶快速選擇和修改所有的設置。該操作不需要觸控筆，測試參數(shù)可以迅速、簡便地編輯出來。可以簡便地進行多步驟測試程序的增加、程序次序及參數(shù)值的修改。
在“專家模式”下，用戶可以在測試中使用滾輪進行手動參數(shù)修改，從而有效、迅速地簡化激活關鍵閾值。通過SD讀卡器可迅速進行固件下載。可以完整的保存由用戶指定的測試。在存儲空間不夠的特殊情況下，可用市場購買的SD記憶卡更換該記憶卡，而存放其中的測試文件可被輕松復制進更大內存的SD卡中。
TESEQ NSG 3040電源質量測試系統(tǒng)具有以太網(wǎng)端口，可接受來自個人電腦的外部控制。Windows軟件簡化了測試程序并允許為各種類型的測試編寫復雜的測試序列。在測試進程中，操作人員可以進行觀察并在測試操作中生成測試報告，以此增加長期測試的效率。
